薄膜測(cè)量

該系統(tǒng)為單層膜測(cè)量提供了所需的測(cè)量工具，包括反射探頭和支架，可以測(cè)量的膜層厚度從 10 nm 到 50μm， 分辨率可達(dá) 1 nm，測(cè)量范圍從紫外 / 可 見到近紅外（200-1100 nm）。